Auftragsanalysen – Mikroskopie und Topographie

Lichtmikroskopie, Digitalmikroskopie

Mit Hilfe der Elektronenmikroskopie können sowohl das Innere als auch die Oberfläche einer Probe abgebildet werden.

• Rasterelektronenmikroskopie (REM, ESEM)
• Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM, EFTEM mit spezieller Präparation)
• Röntgen-Computertomographie

Messung von Oberflächenrauhigkeiten und mechanischen Eigenschaften vom Mikrometer- bis Nanometerbereich (z.B. Rasterkraftmikroskop – AFM/SPM)