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Angebot für Unternehmen

Auftragsanalysen – Mikroskopie und Topographie

Lichtmikroskopie, Digitalmikroskopie

Mit Hilfe der Elektronenmikroskopie können sowohl das Innere als auch die Oberfläche einer Probe abgebildet werden.

  • Rasterelektronenmikroskopie (REM, ESEM)
  • Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM, EFTEM mit spezieller Präparation)
  • Röntgen-Computertomographie

Messung von Oberflächenrauhigkeiten und mechanischen Eigenschaften vom Mikrometer- bis Nanometerbereich (z.B. Rasterkraftmikroskop – AFM/SPM)

Anwenderzentrum Material- und Umweltforschung (AMU) Augsburg

Dr. Patrick Starke

Kontaktdaten

Darüber hinaus bietet Ihnen das AMU: